X선 형광 분석: 전기 도금 시 품질 관리를 위한 이상적인 방법(Part 2)

FISCHERSCOPE XUL 또는 XULM 라인의 최신 XRF 시스템은 일반적으로 크기가 작으며, 실험실은 물론 생산, 배송 또는 수령 지역 근처에 설치하고 사용할 수 있습니다. 헬무트 피셔 그룹은 휴대용 휴대용 XRF 시스템도 제공합니다.

X선 소스 외에 X선 측정 시스템의 주요 구성 요소는 검출기입니다. 디텍터의 품질에 따라 단일 장치로 해결할 수 있는 측정 작업이 결정됩니다. 피셔는 세 가지 다른 유형의 디텍터를 제공합니다.

proportional counter는 가스가 채워진 튜브입니다. 간단한 측정 작업을 위해 시도하고 테스트한 디텍터이며, 작은 측정 지점이 있는 두꺼운 층을 측정하는 데 적합합니다. 표본에서 배출되는 배출물이 잘 분리되어 있는 경우 즉, 관심 요소가 강하게 다를 경우(예, 구리 기재에 대한 주석 코팅) proportional counter가 매우 좋은 결과를 얻을 수 있습니다.

시료가 복잡할 경우(원자가 많거나 인접 원자 번호) 실콘 디텍터가 선호되거나 필요할 수도 있습니다. 여기에서 Fischer는 실리콘 PIN 다이오드(Si-PIN) 또는 실리콘 드리프트 검출기(SDD)가 장착된 모델을 제공합니다. 둘 다 피크 대 백그라운드(단일 대 잡음) 응답을 훨씬 더 잘 제공하는 proportional counter보다 에너지 분해능이 뛰어납니다. PIN은 중간 범위 디텍터입니다. 재료 분석과 층 두께 측정에 모두 사용할 수 있지만, 작은 측정 스폿의 측정 시간은 더 길어집니다. SDD는 분해능이 우수하고 검출 한계가 가장 뛰어난 최신 반도체 검출기입니다. 이 제품의 장점은 나노미터 눈금의 매우 얇은 코팅 측정과 밀리미터 당 범위의 재료 분석에 있습니다.

XRF 분석을 사용하여 도금조를 모니터링하는 이 방법은 용액 내 이온과 화학물질의 농도를 빠르고 효과적으로 판단할 수 있는 방법입니다. 도금조 분석은 특별한 자격을 갖춘 직원이 상주하지 않고도 생산 공정에서 직접 수행할 수 있습니다. 정확한 측정 결과를 수 초 이내에 얻을 수 있기 때문에 욕조 용액이 이탈했을 때의 반응 시간이 최소화됩니다. 또한 솔루션 분석 셀을 재사용할 수 있어 추가 운영 비용이 발생하지 않습니다.

Fischer 장치를 이용한 XRF 분석은 도금 회사에 상당한 이점을 제공합니다. 도금 업체는 XRF 분석을 통해 부품의 코팅 두께와 도금 욕조 분석을 모두 효과적으로 관리함으로써 제품 품질과 공정 및 비용 관리를 개선하고 제조업체 및 최종 사용자의 요구를 충족할 수 있습니다. 더 이상 분석하기 위해 샘플을 연구소로 보낼 필요가 없으므로 Fischer XRF 측정 시스템이 짧은 시간 후에 스스로 비용을 지불할 수 있도록 상당한 시간과 비용을 절약할 수 있습니다.