X-RAY XAN®500, Appareil de mesure XRF Portable pour l'Analyse Rapide et Non Destructive
Si l'échantillon ne peut pas aller à l'instrument, l'instrument doit venir à l'échantillon! Avec son FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500, Fischer propose un appareil portable de fluorescence X (XRF) optimisé pour la mesure d'épaisseur de revêtement et l'analyse des matériaux dans les alliages.
Malgré sa petite taille, le XAN500 est l'égal de tout instrument XRF que l'on pourrait trouver dans un laboratoire. Son détecteur moderne de dérive au silicium (SDD - Silicon Drift Detector) garantit des résultats de mesure corrects en quelques secondes. Et même les tâches de mesure complexes impliquant plusieurs couches et divers alliages sont résolues de manière fiable.
En particulier lors de la mesure des épaisseurs de revêtement, il est très important de s'assurer que la distance entre le dispositif et l'échantillon reste constante et que le chemin du faisceau est droit. Le support en 3 points du XAN500 vous permet de configurer l'appareil de manière sûre et stable, pour une mesure précise des revêtements. Le résultat est affiché directement sur l'écran de l'appareil. Pour une évaluation plus approfondie des données, le XAN500 est équipé de la suite logicielle complète WinFTM®.
Avec WinFTM, la mesure de l'épaisseur du revêtement et l'analyse des matériaux sont toutes deux basées sur l'analyse des paramètres fondamentaux. Cela permet de mesurer avec précision sans étalonnage préalable, c'est-à-dire sans étalons. Et pour les cas de mesure où le plus haut degré de précision est requis, nous proposons également des étalons certifiés DAkkS qui permettent d'étalonner rapidement et facilement l'appareil pour votre mesure spécifique.
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