X-RAY XAN®500, instrumento móvil de medición de XRF para un análisis rápido y no destructivo
Si la muestra no puede ir al instrumento, ¡el instrumento debe llegar a la muestra! Con su FISCHERSCOPEOX-RAY XAN®500, Fischer ofrece un dispositivo móvil de fluorescencia de rayos X (XRF) optimizado para la medición del espesor del revestimiento y el análisis de materiales de aleaciones.
A pesar de su pequeño tamaño, el XAN500 es igual a cualquier instrumento XRF que se pueda encontrar en un laboratorio. Su moderno detector de deriva de silicio (SDD) garantiza unos resultados de medición correctos en pocos segundos. E incluso tareas de medición complejas que implican múltiples capas y varias aleaciones se resuelven de forma fiable.
Especialmente al medir espesores de recubrimiento, es de gran importancia asegurar que la distancia entre el dispositivo y la muestra permanece constante y la trayectoria del haz es recta. El soporte de 3 puntos de la XAN500 le permite configurar el dispositivo de forma segura y estable, para la medición precisa de revestimientos. El resultado se muestra directamente en la pantalla del dispositivo. Para una posterior evaluación de datos, el XAN500 está equipado con el paquete completo de software WinFTM®.
La medición del espesor del revestimiento y el análisis de materiales con Winftm® se basan en el análisis de parámetros fundamentales. Esto hace que sea posible medir con precisión sin calibración previa - es decir, sin estándar. Y para aquellas ocasiones en las que sólo el más alto grado de precisión será suficiente, también ofrecemos estándares certificados por Dakks que hacen que la calibración del dispositivo para su tarea de medición específica sea rápida y fácil.
¡Echa un vistazo al siguiente vídeo para saber más o ponte en contacto con nosotros para obtener más información!
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