Kulometryczna metoda pomiarowa

Które połączenia materiałów powłoki i podłoża umożliwiają pomiar metodą kulometryczną?

Metoda służy do pomiaru grubości powłok metalicznych na podłożach metalicznych, plastikowych lub ceramicznych.

Jakie wymagania muszą być spełnione przed rozpoczęciem pomiaru metodą kulometryczną?

Przed pomiarem należy zagwarantować, aby powierzchnia powłoki była czysta, a zacisk uchwytu dobrze przylegał do próbki. Następnie należy wybrać prędkość roztwarzania zbliżoną do maksymalnej prędkości dla danej grubości powłoki. Równie ważny jest dobór elektrolitu.

Jakie czynniki wpływają na dokładność pomiaru metodą kulometryczną?

Takimi czynnikami są grubość powłoki, skład podłoża, uszczelka celki pomiarowej, prędkość roztwarzania i czystość powłoki.

Czy gęstość ma wpływ na kalibrację?

Tak, ma wpływ.
Przykład:
Najpierw należy przeprowadzić kalibrację przyrządu z wykorzystaniem próbki z powłoką o gęstości 2 g/cm³. Następnie wykonać pomiar próbki z powłoką o gęstości 1 g/cm³. Brak nowej kalibracji będzie skutkować błędem pomiaru. Oznacza to, że wyniki pomiaru zawsze będą zbyt niskie. Wynika to z faktu przetwarzania przez przyrząd sygnału nowej próbki w taki sposób, jak próbki z powłoką o gęstości 2 g/cm³.

Kontakt z FISCHER

Contact

HELMUT FISCHER GMBH
INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
Sindelfingen/Deutschland

Kontakt
Osoby kontaktowe

Bezpośredni kontakt
Tel.: +49 (0) 70 31 / 3 03 - 0
E-mail: mail@helmut-fischer.de
Formularz kontaktu online