Glossaire

Notre glossaire technique sur le thème de la mesure d'épaisseur de revêtement, l'analyse des matériaux et la caractérisation des surfaces.

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Source de rayonnement
Source de rayonnement

Le rayonnement X primaire requis pour la spectrométrie de fluorescence X est généré à l'aide d'un tube à rayons X dans lequel une cathode chauffée émet des électrons qui subissent une accélération jusqu'à une vitesse très élevée via l'application d'une haute tension. Le rayonnement X est créé lorsque ces électrons frappent le matériau anodique du tube, généralement du tungstène ou du molybdène. Afin de garantir que les tubes à rayons X fonctionnent de manière fiable durant de nombreuses années, chaque pièce individuelle doit subir des tests d'inspection entrants approfondis.

Le générateur de rayons X développé par FISCHER intègre le tube blindé refroidi à l'huile avec la génération de haute tension, ce qui résulte en une excellente stabilité et une longue durée de vie.

Spectre
Spectre

Dans la spectrométrie de fluorescence X, le rayonnement émis par l'échantillon est représenté dans le spectre du signal dont les lignes identifient les éléments contenus dans l'échantillon. À partir de ce spectre, le logiciel FISCHER WinFTM® intègre les paramètres souhaités, tels que l'épaisseur du revêtement ou les concentrations en élément.

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