Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

Lorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei Ipsum

Das System für ein breites Einsatzspektrum.

Universelles Gerät zur Metall- und Edelmetallanalyse sowie Schichtdickenmessung an einfach geformten Proben und RoHS-Screening.

 

Verschiedene Messtischoptionen:
Fest oder manuell
RoHS-Analyse:
Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen
Videomikroskop zur bequemen
Bestimmung der optimalen Messstelle

Das passende XRF-Gerät für jede Anwendung.

Ob PIN-Detektor, Silizium-Drift-Detektor, feste Probenauflage oder manuell bedienbarer XY-Tisch: Das FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® bietet vielseitige Einsatzmöglichkeiten und ist auf Ihre Bedürfnisnisse angepasst. So gelingt die präzise Materialanalyse von Edelmetall- und Goldlegierungen, Schichtdickenmessung oder Spurenanalyse. Die Geräteversion mit dem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor eignet sich darüber hinaus für RoHS-Messungen.

Vielfältig einsetzbar.

Für Handel, Industrie und Laboranwendungen

Quick-Measure-Design.

Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

RoHS-Analyse.

Zuverlässige Bestimmung von Schadstoffen

Digitaler Pulsprozessor 
DPP+*.

Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung**

*Nicht bei FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**Im Vergleich zum DPP

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode

      Silizium-PIN- und Silizium-Drift-Detektor sorgen für sehr gute Nachweisgenauigkeit und hohe Auflösung

      Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+

      Höhere Haube: Von 90 mm bis zu 170 mm Probenhöhe möglich, je nach Gerät

      Blende: fest oder 4-fach wechselbar*
      Primärfilter: fest oder 6-fach wechselbar*
      *je nach Gerät

      Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

      Kleinster Messfleck ca.: Ø 0,3 mm

      Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör

  • Anwendungsbeispiele

      • Zerstörungsfreie Analyse von Dental-Legierungen
      • Mehrfachschichten
      • Analyse funktionaler Schichten ab 10 nm in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
      • Spurenanalyse für Verbraucherschutz, z. B. Bleigehalt in Spielzeug
      • Metall-Legierungsbestimmungen mit höchsten Genauigkeitsanforderungen in der Schmuckindustrie und in Scheideanstalten

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
ZnNi-Fe Beschichtung: Messung von Beschichtung sowie Kontrolle der zugehörigen Bäder
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

Messverfahren.

Lernen Sie, wie die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert.

Mehr erfahren
Services.

Wir bieten Ihnen alles, was Sie für sichere Messergebnisse benötigen.

Mehr erfahren
Warum Fischer.

Entdecken Sie viele gute Gründe, die für uns als Unternehmen sprechen.

Mehr erfahren

Entdecken Sie weitere Produkte.