XDV-SDD

Das XDV-SDD ist eines der leistungsstärksten Röntgenfluoreszenz-Geräte im Fischer-Portfolio. Die Instrumente sind mit einem besonders großen Silizium-Drift-Detektor (SDD) ausgestattet. Ein Detektor-Fenster von 50 mm² ermöglicht auch bei kleinen Messflecken schnelle und präzise Analysen. Zusätzlich lassen sich die Geräte mit verschiedenen Blenden und Filtern ausrüsten, um für jede Messaufgabe die optimalen Anregungsbedingungen zu schaffen.

XDV-SDD für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse konzipiert

Merkmale

  • Präzise und wiederholgenaue Messung dünnster Beschichtungen dank leistungsstarker Röntgenröhre und Silizium-Drift-Detektor (SDD) mit großer effektiver Fläche
  • Extrem robuste Bauweise für Serienprüfungen mit hervorragender Langzeitstabilität über Jahre hinweg
  • Automatisierte Serienprüfung dank programmierbarem XY-Tisch und Z-Achse
  • Schnelle und einfache Positionierung der Proben dank Live-Videobild und Laserpointer

Anwendungen

Schichtdickenmessung

  • Kontrolle sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold- und Palladiumschichten ≤0,1µm in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
  • Messung von Hartstoffschichten in der Automobil-Produktion
  • Schichtdickenmessung in der Photovoltaik-Industrie

Materialanalyse

  • Identifikation unerwünschter Substanzen (zum Beispiel Schwermetalle), nach RoHS, WEEE, CPSIA und anderen Richtlinien für Elektronik, Verpackung und Gebrauchsgegenstände
  • Analyse von Gold und anderen Edelmetallen sowie Edelmetall-Legierungen
  • Zusammensetzung von funktionalen Schichten, beispielsweise Bestimmung des Phosphorgehalts in NiP

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HELMUT FISCHER GMBH
INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
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