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PICODENTOR HM500: Das Premium-Messgerät für die Nanoindentation

PICODENTOR HM500

Der PICODENTOR HM500 ist das leistungsstärkste unter den Indentations-Messgeräten von Fischer. Eine vergleichbar hohe Auflösung und entsprechende Genauigkeit der Kraft- und Wegmessung bieten gewöhnlich nur sehr aufwändige Messinstrumente mit wesentlich höheren Anschaffungskosten. Der PICODENTOR HM500 vereint jedoch High-End-Technik mit einfacher Handhabung. Durch einen programmierbaren XY-Tisch, der die Positionierung der Proben mit einer Genauigkeit von ≤ 0,5 µm erlaubt, eignet es sich für anspruchsvolle Messaufgaben wie die automatische Analyse extrem kleiner Messflächen. Mit der mitgelieferten Software WIN-HCU lässt sich das Messgerät nicht nur intuitiv bedienen. Sie ermöglicht auch die schnelle und unkomplizierte Ermittlung zahlreicher Werkstoffparameter und die dynamisch-mechanische Analyse von kleinen Proben.

PICODENTOR HM500: Das Premium-Messgerät für die Nanoindentation

Merkmale:

  • Bestimmung zahlreicher plastischer und elastischer Eigenschaften wie Eindringhärte (umwertbar in Vickers-Härte), Eindringmodul und Kriechverhalten
  • Sehr gute Temperaturstabilität
  • Dynamic Mode mit oszillierender Krafteinwirkung
  • Messung und Berechnung der Werkstoffkenngrößen gemäß DIN EN ISO 14577-1 und ASTM E 2546
  • Indentoren: Vickers, Berkovich oder Hartmetallkugel
  • Kundenspezifische Indentoren auf Anfrage
  • Mikroskop mit drei Vergrößerungsstufen und Autofokus zur exakten Positionierung der Messstelle
  • Selbstständige, hochgenaue Nullpunktbestimmung mit Schnellvorlauf
  • Programmierbarer XY-Präzisionstisch (Genauigkeit ≤ 0,5 µm) 
  • aktiver Dämpfungstisch
  • Als attraktive Einstiegsversion in der LIGHT-Ausführung erhältlich: mit vordefinierter Ausstattung und einem Messtisch mit ≤ 2 µm genauer Positionierung
  • Über die leistungsfähige Software WIN-HCU können Sie Ihre Messergebisse schnell und übersichtlich auswerten und darstellen

Anwendungen:

  • Messungen auf extrem kleinen Probeflächen
  • Analyse ionenimplantierter Oberflächen
  • Prüfung von Nanoschichten bei Sensoren
  • Matrixeffekte bei Legierungen
  • Messungen an biologischen Materialien
  • Bestimmung der plastischen und elastischen Eigenschaften an Querschliffen
  • Dynamisch-mechanische Analyse von kleinen Proben
  • Präzise Langzeitmessungen
  • Messung der Härte von Bond-Drähten in der Halbleiterindustrie
  • Ermittlung der Abriebfestigkeit und Bondfähigkeit von Steckkontakten
  • Mechanische Eigenschaften wie Härte, Elastizität und Kratzfestigkeit mehrlagiger Schutzlacke auf optischen Gläsern und Linsen
  • Messung der Härte und Elastizität von PVD-, CVD- und DLC-Beschichtungen sowie Schichten aus chemisch Nickel
  • Automatisierte Messungen auf mehreren Proben
  • Nachweis der Kratzfestigkeit und Abriebfestigkeit von Beschichtungen

Zubehör (optional):

  • Heiztisch SHS200 für Prüfungen bei erhöhten Temperaturen
  • Raster-Kraft-Mikroskop (Atomic Force Microscope, AFM): Erfassen Sie die dreidimensionale Oberfläche Ihrer Probe und messen Sie weitere Werkstoffparameter wie Reibungseigenschaften
  • Probenhalter für verschiedene Prüfmuster
  • Schallschutzschutzhaube zur Minimierung der akustischen Messeinflüsse bei sehr kleinen Kräften

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