iMOXS

Mit der modularen Röntgenquelle iMOXS (IfG Modular X-ray Source) können Sie die Funktionen Ihres Raster-Elektronen-Mikroskops (REM) unkompliziert erweitern. iMOXS nutzt den bestehenden Detektor des Elektronenmikroskops und lässt sich mittels definiertem Flansch ohne großen Aufwand mit allen gängigen REM-Typen kombinieren. Mit der Elektronenquelle des REM und der zusätzlichen Röntgenquelle können Sie mit einem Gerät Proben per Röntgenfluoreszenz- und Elektronenstrahl-Mikroanalyse untersuchen. So profitieren Sie von den Vorteilen beider Verfahren und weisen Elemente in geringen Konzentrationen mit sehr hoher Auflösung nach.

iMOXS: Rasterelektronenmikroskope einfach erweitern

Merkmale:

  • Modularer Aufbau: Röntgenröhre und Röntgenoptik lassen sich leicht an individuelle Anforderungen anpassen.
  • Unkomplizierte Bedienung: Messposition einfach verstellbar und über den REM-Monitor sichtbar
  • Durch definierten Flansch einfach auf alle gängigen Raster-Elektronen-Mikroskopen aufbaubar
  • Zur Analyse von Strukturen ab 10 µm geeignet: Die hochwertige Polykapillaroptik bündelt Röntgenstrahlen gezielt auf eine kleine Messfläche.
  • Below-the-surface-inspection: Messungen des Materials auch deutlich unterhalb der Oberfläche möglich

Anwendungen:

  • REM Mapping: schnelle Übersicht über die elementare Zusammensetzung eines Musters; findet Elemente, die für das REM verborgen sind
  • Fehleranalyse, Prüfung von Werkstoffversagen und Materialermüdung
  • Materialanalyse direkt im REM, zum Beispiel Bestimmung der Si- und Zn-Anteile in Aluminiumlegierungen
  • Forensische Analysen
  • Nachweis von Spurenelementen im ppm-Bereich
  • Detektion schwerer Elemente (Z > 18)

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