Automatische Mustererkennung vereinfacht die Qualitätskontrolle von Leiterplatten

Moderne Leiterplatten verfügen über eine Vielzahl von Kontaktstellen für elektrische Verbindungen, welche alle metallisch beschichtet werden. Die messtechnische Überwachung dieser vielen Beschichtungsstellen ist zur genauen Prozess­kontrolle überaus wichtig. Insbesondere bei großflächigem Nutzen ist die manuelle Positio­nierung auf den kleinen Messpositionen nicht mehr effektiv durchführbar.

Für die messtechnische Überwachung der Beschichtungsdicke und Materialzusammensetzung von Kontaktstellen auf Leiterplatten hat sich die Röntgenfluoreszenz-Methode (RFA) etabliert. Fischer bietet gleich mehrere Modelle der FISCHERSCOPE-X-RAY-Serie an, welche speziell für diese Messaufgabe optimiert sind. Da die Anforderungen an die Automatisierung auch in der Qualitätskontrolle ständig steigen, hat Fischer eine Lösung zur schnellen und effektiven Messung von Leiterplatten bei minimiertem Bedieneraufwand entwickelt.

Die Software WinFTM® verfügt ab der Version 6.30 über eine automatische Bilderkennung. Diese erlaubt eine genaue und exakte Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen bei allen RFA-Geräten mit programmierbarem XY-Tisch. Diese Bilderkennung lässt sich gerade für automatisierte Prozesse sinnvoll einsetzen, wenn z. B. große Leiterplatten geprüft werden und immer wieder auf den gleichen Testpositionen gemessen werden muss.

Wenn das Gerät mit der nächsten Leiterplatte bestückt wird, entsteht meist ein kleiner Versatz (Offset) zu den ursprünglich programmierten Messpunkten der ersten Leiterplatte. Die Messpositionen der kleinen Strukturen im µm-Bereich können nur mit Hilfe einer Feinjustage über die Bilder­kennung exakt wiedergefunden werden. Bei der WinFTM® 6.30 lässt sich im Menü "Bilderkennung" ein Bildausschnitt bzw. Muster definieren. Die Mess­position kann dabei innerhalb des Bildausschnitts frei gewählt werden. Vor einer Messung wird die Lage des Messflecks (Fadenkreuzmitte) mit dem Bildausschnitt abgeglichen und die richtige Messposition wird angefahren. Weitere, automatische Positio­nierungen, wie z. B. das Finden und Anfahren des nächsten Pads in einer Reihe, lassen sich daraus ableiten. Es können auch mehrere Bildausschnitte bzw. Muster definiert werden, so dass sich automatisierte Messungen an unterschiedlichen Strukturen durchführen lassen.

Mit Hilfe der Voreinstellungen im Bilderkennungsmenü lässt sich diese Softwarefunktion selbst ohne Vorkenntnisse einfach bedienen. Zudem gibt es die Möglichkeit, verschiedene Suchalgorithmen auszu­wählen oder über die Fehlerprüfung auch geringfügige Abweichungen des Bildausschnitts (Muster) zuzulassen.

Mit der neuen Mustererkennung in der WinFTM®-Software der RFA-Messsysteme von Fischer lassen sich Messungen für die Qualitätskontrolle an Leiterplatten sehr gut automatisieren. Für weitere Informationen kontaktieren Sie bitte Ihren lokalen Fischer-Ansprechpartner.

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