FISCHERSCOPE® XULM® |
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Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur zerstörungsfreien Materialanalyse und Schichtdickenmessung auf kleinen Bauteilen
Merkmale
- Sehr flexibel einsetzbares Messgerät für die Schichtdickenmessung
- Durch wählbare Hochspannungs-Filter-Kombinationen sind dünne und auch dicke Schichten (z. B. 50 nm Au oder 100 μm Sn) gleichermaßen messbar.
- Die Mikrofokusröhre ermöglicht kleine Messfleckgrößen, bei kurzem Messabstand knapp 100 μm.
- Hohe Zählraten von einigen kcps durch Proportionalzählrohr
- Messrichtung von unten nach oben, dadurch einfachste Probenpositionierung
- Großvolumige Messkammer mit Gehäuseaussparung (C-Schlitz)
Typische Einsatzgebiete
- Messung von Beschichtungen wie z. B. Au/Ni/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB in der Leiterplattenindustrie
- Beschichtungen von Steckern und Kontakten in der Elektronikindustrie
- Dekorative Beschichtungen Cr/Ni/Cu/ABS
- Galvanische Beschichtungen wie z. B. Zn/Fe, ZnNi/Fe als Korrosionsschutz von Massenteilen (Schrauben und Muttern)
- Schmuck- und Uhrenindustrie
- Bestimmung des Metallgehalts von galvanischen Bädern
Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568