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FISCHERSCOPE® X-RAY

   Röntgenfluoreszenz-Messsysteme

FISCHERSCOPE® XULM®

 
Weitere Informationen:
Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur zerstörungsfreien Materialanalyse und Schichtdickenmessung auf kleinen Bauteilen

Merkmale

  • Sehr flexibel einsetzbares Messgerät für die Schichtdickenmessung
  • Durch wählbare Hochspannungs-Filter-Kombinationen sind dünne und auch dicke Schichten (z. B. 50 nm Au oder 100 μm Sn) gleichermaßen messbar.
  • Die Mikrofokusröhre ermöglicht kleine Messfleckgrößen, bei kurzem Messabstand knapp 100 μm.
  • Hohe Zählraten von einigen kcps durch Proportionalzählrohr
  • Messrichtung von unten nach oben, dadurch einfachste Probenpositionierung
  • Großvolumige Messkammer mit Gehäuseaussparung (C-Schlitz)

Typische Einsatzgebiete

  • Messung von Beschichtungen wie z. B. Au/Ni/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB in der Leiterplattenindustrie
  • Beschichtungen von Steckern und Kontakten in der Elektronikindustrie
  • Dekorative Beschichtungen Cr/Ni/Cu/ABS
  • Galvanische Beschichtungen wie z. B. Zn/Fe, ZnNi/Fe als Korrosionsschutz von Massenteilen (Schrauben und Muttern)
  • Schmuck- und Uhrenindustrie
  • Bestimmung des Metallgehalts von galvanischen Bädern

Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568