Robustes und kostengünstiges Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur zerstörungsfreien Materialanalyse und Schichtdickenmessung

Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur zerstörungsfreien Materialanalyse und Schichtdickenmessung auf kleinen Bauteilen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur schnellen und zerstörungsfreien Analyse von Gold- und Silberlegierungen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät für höchste Ansprüche zur zerstörungsfreien Materialanalyse und Schichtdickenmessung

Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur manuellen oder automatisierten Schichtdickenmessung von funktionalen Schichten, Korrosionsschutz-Schichten und Massenteilen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur manuellen oder automatisierten Schichtdickenmessung und -analyse an Leiterplatten, Elektronikkomponenten und Massenteilen, auch auf kleinen Strukturen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät mit programmierbarem X/Y-Tisch und Z-Achse zur automatisierten Messung von Schichtdicken und zur Materialanalyse

Röntgenfluoreszenz-Messgerät für höchste Ansprüche, mit programmierbarem X/Y-Tisch und Z-Achse zur automatisierten Messung sehr dünner Schichten und zur Spurenanalyse

Röntgenfluoreszenz-Messgerät mit Polykapillar-Röntgenoptik zur automatisierten Messung und Analyse von Schichtdicke und -zusammensetzung auf kleinsten Bauteilen und Strukturen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät mit Vakuumkammer, universelles Premium-Gerät mit umfassenden Messmöglichkeiten

Röntgenfluoreszenz-Messsystem zur kontinuierlichen in-line Messung und Analyse im Produktionsprozess an glatten und gestanzten Bändern, auch mit geformten und geprägten Kontaktflächen

Röntgenfluoreszenz-Messsystem zur kontinuierlichen in-line Messung und Analyse dünner Schichten, wie CIGS, CIS oder CdTe, im Produktionsprozess

Software für alle FISCHERSCOPE^® X-RAY Röntgenfluoreszenz-Messsysteme

Zubehör für FISCHERSCOPE^® X-RAY Röntgenfluoreszenz-Messsysteme