FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 |
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Röntgenfluoreszenz-Messsystem zur kontinuierlichen in-line Messung und Analyse dünner Schichten, wie CIGS, CIS oder CdTe, im Produktionsprozess
Merkmale
- Einbaumesskopf für kontinuierliche Messungen in Fertigungsanlagen
- Detektoren: Silizium PIN oder Silizium SDD
- Einfachste, schnelle Kalibrierung mit Werkstück-Master direkt im Fertigungsablauf
- Einsatz im Vakuum oder Umgebungsluft
- Messung auch auf sehr heißen Substraten bis 500° C
- Robuste und servicefreundliche mechanische Konstruktion
Typische Einsatzgebiete
- Photovoltaik (CIGS, CIS, CdTe)
- Analyse dünner Schichten auf Metallbändern, Metallfolien und Kunststofffolien
- Kontinuierliche Fertigung
- Prozessüberwachung von Sputter- und Galvanikanlagen
- Messung an großflächigen Produkten
Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568
