Merkmale

• Premium-Modell mit universeller Einsatzcharakteristik
• Höchst flexible Anregung, sowohl von der Messfleckgröße als auch von der spektralen Zusammensetzung
• Durch den Silizium-Drift-Detektor können auch sehr hohe Intensitäten > 100kcps ohne Verlust an Energieauslösung verarbeitet werden
 
• Niedrigste Detektionsgrenzen und hohe Wiederholpräzision
• Große und gut zugängliche Messkammer
• Automatisierte Messung mit schnellem, programmierbaren XY-Tisch

Typische Einsatzgebiete

• Kontrolle sehr dünner Beschichtungen z. B. in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
• Spurenanalyse z. B. Nachweis von Schadstoffen nach RoHS, Spielzeugnorm, Verpackungsnorm
• Gold- und Edelmetallanalyse in höchster Präzision
• Photovoltaik-Industrie
• Messung der Dicke und Zusammensetzung von NiP-Schichten