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FISCHERSCOPE® X-RAY

   Röntgenfluoreszenz-Messsysteme

FISCHERSCOPE® XDLM®

 
Weitere Informationen:
Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur manuellen oder automatisierten Schichtdickenmessung und -analyse an Leiterplatten, Elektronikkomponenten und Massenteilen, auch auf kleinen Strukturen

Merkmale

  • Sehr universell, da mit Mikrofokusröhre, 4-fach-Blendenwechsler und 3 Primärfiltern ausgestattet
  • Für kleine Strukturen wie bei Steckkontakten oder Leiterplatten geeignet
  • Auch für große Messabstände geeignet (DCM, Hub 0-80 mm)
  • Große, geräumige Messkammer mit C-Schlitz
  • Programmierbarer Tisch für automatisierte Messungen erhältlich

Typische Einsatzgebiete

  • Messen von z. B. dünnen Gold-, Palladium- und Nickelschichten in der Leiterplattenindustrie
  • Messung beschichteter Stecker und Kontakte
  • Messung funktioneller Schichten in der Elektronik und
    Halbleiterindustrie
  • Gold-, Schmuck- und Uhrenindustrie

Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568