FISCHERSCOPE® XDLM® |
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Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur manuellen oder automatisierten Schichtdickenmessung und -analyse an Leiterplatten, Elektronikkomponenten und Massenteilen, auch auf kleinen Strukturen
Merkmale
- Sehr universell, da mit Mikrofokusröhre, 4-fach-Blendenwechsler und 3 Primärfiltern ausgestattet
- Für kleine Strukturen wie bei Steckkontakten oder Leiterplatten geeignet
- Auch für große Messabstände geeignet (DCM, Hub 0-80 mm)
- Große, geräumige Messkammer mit C-Schlitz
- Programmierbarer Tisch für automatisierte Messungen erhältlich
Typische Einsatzgebiete
- Messen von z. B. dünnen Gold-, Palladium- und Nickelschichten in der Leiterplattenindustrie
- Messung beschichteter Stecker und Kontakte
- Messung funktioneller Schichten in der Elektronik und
Halbleiterindustrie
- Gold-, Schmuck- und Uhrenindustrie
Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568