Merkmale

• Von unten messendes Analysegerät, sehr flexibler Einsatz
• Vollständig geschlossene Messkammer erlaubt auch große Blenden und damit hohe Zählraten
• Messrichtung von unten nach oben, dadurch einfachste Probenpositionierung
• Höchst flexible Anregung, sowohl von der Messfleckgröße als auch von der spektralen Zusammensetzung
• Durch den Silizium-Drift-Detektor können auch sehr hohe Intensitäten > 100 kcps ohne Verlust an Energieauslösung verarbeitet werden
• Ideal für die Anayse von Goldlegierungen und die Schadstoff-Spurenanalyse von Kunststoffen

Typische Einsatzgebiete

• Gold- und Edelmetallanalyse in der Schmuck- und
  Uhrenindustrie
• Messung dünner Schichten von wenigen Nanometern,
  wie z. B. Au und Pd auf Leiterplatten und Elektronikbauteilen
• Spurenanalyse, z. B. Schadstoffe in elektronischen
  Bauteilen (RoHS) oder Spielzeug
• Analyse von leichten Elementen wie Al, Si, P mit
  XAN 150
• Allgemeine Materialanalyse und Schichtdickenmessung in Laboren, Prüfanstalten und Universitäten