SR-SCOPE® RMP30-S |
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Handgerät zur Messung von Kupferschichten auf Leiterplatten, zerstörungsfrei, schnell, präzise und ohne Einfluss gegenüberliegender Kupferschichten
Merkmale
- Das SR-SCOPE® RMP30-S misst die Dicke von Kupferschichten auf den Oberseiten von Leiterplatten nach der elektrischen Widerstandsmethode gemäß Norm EN 14571.
Typische Einsatzgebiete
- Besonders geeignet für Messungen auf Multilayern oder dünnen Laminaten, da verfahrensbedingt kein Durchgriff erfolgt und somit keine Beeinflussung durch gegenüberliegende Kupferschichten vorliegt.
