Merkmale

Die Modulkarte BETASCOPE^® innerhalb des MMS Systems arbeitet nach der Betarückstreu-Methode.

Damit ist die Dicke von Schichten aus beliebigem Material auf beliebigem Grundwerkstoff messbar, sofern zwischen Schicht- und Grundwerkstoff ein Unterschied von mindestens 5 Atomordnungszahlen besteht.

Typische Einsatzgebiete

• Nanolackbeschichtungen (Antifingerprint) auf Edelstahl
• Solarzellenbeschichtungen (CdTe/Glas)
• In Galvanikbetrieben zur Messung von Einzelschichtdicken (auch mit Handmesssonde)
• Bei der Lackherstellung und -verarbeitung zur Messung organischer Schichten auf metallischen Substraten
• In der Blech erzeugenden und verarbeitenden Industrie zur Qualitätskontrolle von Korrosionsschutzschichten aus Öl, Bonazink usw.
• Folien, Textilgewebe