FISCHERSCOPE® X-RAY Röntgen-
      Fluoreszenz-Messsystem (RFA) XDAL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

Merkmale

  • Mit Halbleiterdetektor, dadurch erweiterte Möglichkeiten bei der Elementanalyse und bei der Messung dünner Schichten, da besseres Signal/Untergrund-Verhältnis
  • Mikrofokusröhre erlaubt auch kleine Messflecke, aufgrund der niedrigeren Intensität jedoch für kleinere Strukturen weniger geeignet  
  • Große, geräumige Messkammer mit C-Schlitz
  • Schneller, programmierbarer XY-Tisch mit Zungenfunktion

Typische Einsatzgebiete

  • Materialanalyse von Schichten und Legierungen (auch dünne Beschichtungen und geringe Konzentrationen)
  • Wareneingangskontrolle, Fertigungsüberwachung
  • Forschung und Entwicklung
  • Elektronikindustrie, Stecker und Kontakte
  • Gold-, Schmuck- und Uhrenindustrie
  • Messung dünner Au- und Pd-Schichten von nur wenigen Nanometern in der Leiterplattenfertigung
  • Spurenanalyse
  • Bestimmung von Blei (Pb) bei „high reliability“-Anwendungen
  • Analyse von Hartstoffbeschichtungen

Röntgenfluoreszenz-Messgerät (RFA) mit programmierbarem XY-Tisch und Z-Achse zur automatisierten Messung von Schichtdicken und zur Materialanalyse

Messungen gemäß DIN ISO 3497 und ASTM B 568